Sensofar, empresa terrassenca dedicada a la fabricació de metrologia de superfícies sense contacte i sistemes d’inspecció de dispositius per a la investigació, la indústria i el control de processos en línia, ha patentat un nou sistema per a mesurar superfícies sense contacte d’objectes tridimensionals amb una resolució submicròmetre, és a dir, pràcticament al detall.
La invenció, anomenada Escaneig focal de cerca codificada (ESFS, per les seves sigles en anglès) és fruit de l’esforç col·laboratiu dels científics de Sensofar Narcís Vilar, Roger Artigas i Guillem Carles. La principal novetat és la seva capacitat per reconstruir mapes d’alçada a partir de conjunts de dades d’imatge d’entrada dràsticament més petites, un salt tecnològic que accelera significativament el procés d’adquisició d’imatges i permet mesurar fins i tot mostres que es mouen ràpidament, expliquen des de la firma egarenca.
Sensofar explica que l’ESFS pot proporcionar mesures d’alçada de superfície en un abast de més de 100 micròmetres, mantenint una precisió submicròmetre i que ho aconsegueix amb només vuit imatges d’entrada, aconseguint una velocitat de fins a 67 topografies per segon.
“Aquesta velocitat i eficiència sense precedents, juntament amb l’alta resolució, permeten caracteritzar per primera vegada sistemes grans i ràpids. Aquest avenç ofereix nous horitzons emocionants per a diverses indústries, que prometen impulsar la metrologia òptica a una nova era de velocitat i precisió”, assegura la companyia.
